發布時間: 2022-08-30 來(lái)源(yuán):勤卓環試
在(zài)可程式恒溫恒濕試驗箱的世界裏,模擬高溫、低溫、濕熱(rè)環境便是它最大的(de)使命,至於裏(lǐ)麵(miàn)是測試電子產品還是塑膠產(chǎn)品(pǐn),汽車零部(bù)件還是消防器材都對它沒有(yǒu)任何的(de)影響。而對於樣(yàng)品來說,它們在裏麵所收到(dào)的一切苛刻溫度環境條件都將是證(zhèng)明品質的(de)證據。今天小編想(xiǎng)要和您(nín)談談,關於LED芯片的(de)失效分析。LED芯片作為LED光源最核(hé)心的部件,質量決定著產品的性能及可靠性。芯片製造工藝多達數(shù)十道甚至上百道,結(jié)構複雜,尺寸微小(微(wēi)米級),任何一道工藝(yì)或結構異常都會(huì)導致芯片(piàn)失效。同時芯片較為(wéi)脆弱,任何不當使用都可能會損傷芯片,使得(dé)芯(xīn)片在使用過程中出(chū)現失效。
通過數千個LED芯片失效分析案例證明,可將其失效原因分為(wéi)以下幾大類:1.封裝工藝影響。2.過電(diàn)應力。3.LED燈具散熱不良。4.芯片工藝異常。5.芯片結構設計不合理。6.芯片外延質量問題。7.外環境影響。
